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- 天津市电子仪表实验所 天津300210
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- 沟槽型MOSFET的发展(英文)
- 同济大学 FORCE MOS技术有限公司
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- 江苏省苏州实验中学
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- Hot-Carrier Stress Effects on GIDL and SILC in 90nm LDD-MOSFET with Ultra-Thin Gate Oxide
- School of Microelectronics Xidian University Xi'an 710071Key Lab of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices Xidian University Xi'an 710071
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