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- Statistical Modeling of Gate Capacitance Variations Induced by Random Dopants in Nanometer MOSFETs Reserving Correlations
- College of Electronics and Information Hangzhou Dianzi University
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- 一种基于加速不平衡功率快速估算的切机敏感点搜寻方法研究
- 国网四川省电力公司经济技术研究院 四川成都610041国网四川省电力公司 四川成都610041
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- Al_2O_3/GaSb p-MOSFET器件电学性质模拟(英文)
- 东华大学理学院应用物理系 上海201620中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室 上海200083
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- 双栅MOSFET沟道侧壁绝缘柱(DP)表面势解析模型
- 安徽大学电子信息工程学院 合肥230601
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- 一种基于热噪声的真随机数发生器的设计与实现
- 哈尔滨工业大学(威海)微电子中心 山东威海264209哈尔滨工业大学微电子中心 黑龙江哈尔滨150001
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